Un cas extrême de contact électrique miniature : l'AFM à pointe conductrice
L. Boyer * , P. Chrétien *, F. Houze * ¤, R. Meyer * et O. Schneegans * (LGEP, Gif-sur-Yvette)
J3eA - Vol. 2, Hors-Série 2 - 1 (2003).
DOI : 10.1051/bib-j3ea:2003601
Mis en ligne le 28 octobre 2003.
Article (PDF) (413 Ko) 
Résumé
Dans la recherche de la miniaturisation des contacts électriques, la sonde utilisée dans les microscopes à force atomique peut être considérée comme un modèle réduit extrême. Après avoir montré en quoi consiste ce contact, nous donnerons quelques idées d'applications envisageables.
© EDP Sciences, 2003.
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Ce hors-série contient les articles issus des présentations faites lors des journées Électrotechnique 2003 du club EEA intitulées « Génie électrique : réduction d'échelle et intégration » et organisées par le Centre de Robotique, d'Électrotechnique et d'Automatique les 12 et 13 mars 2003& Voir l'introduction
Plan de l'article
1. Introduction
2. L'A.F.M. conducteur
- 2.1. Le microscope à force atomique
- 2.2. La mesure de résistance locale
3. Le nano-contact
- 3.1. Les particularités du nano-contact
- 3.2. Les applications macroscopiques
- 3.3. Les applications microscopiques
4. Conclusions
Références
* Laboratoire de Génie Électrique de Paris, Supélec, Plateau du Moulon, F-91190 Gif-sur-Yvette, France.
¤ e-mail : [email protected]
Article (PDF) (413 Ko)
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