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F. Abel
Microanalyse nucléaire.
Phénomènes de canalisation. Applications à la caractérisation des échantillons cristallins.
A. Abellard
 voir J.P. Belheur et al.
P. Abellard
voir J.P. Belheur et al.
L. Agro
voir R. Farcy et al.
G. Aka
voir E. Reino et al.
L. Alain
Parse error: parse error, expecting `')'' in /home/home2/edp/bib/bibsup/j3ea/common/articles/vol4HS1_allard.txt on line 19
J.P. Allard
voir P. Lagonotte et al.
C. Alonso
voir B. Estibals et al.
F. Alves et R. Barrué
C. Amra
Thermique photo-induite, déflexion photothermique et endommagement laser dans les composants optiques interférentiels. Mesures d'absorption optique et tenue au flux.
Diffusion de la lumière par les rugosités d'interface et les hétérogénéités de volume. Application à la caractérisation de microstructure dans les composants interférentiels.
N. Antoine-Vincent
voir M. Mihailovic et al.
J.P. Arches, M. Metz et F. Noailles
P. Arguel et P. Destruel
J. Arnaud
D. Arzelier, J. Bernussou, D. Henrion et D. Peaucelle
P. Aschehoug
voir E. Reino et al.
S. Astier
voir R. Saïsset et al.
Y. Avenas
voir M. Ivanova et al.
F. Baillieu et O. Français
G. Bailly
D. Bareille, F. Cordier, G. Mazet et G. Izard
A. Barel et J. Tiberghien
P. Barrade et A. Rufer
P. Barralon
voir N. Noury et al.
voir N. Noury et al.
R. Barrué
F. Barruel, J.-L. Schanen, N. Retiere et J. Roudet
N. Barthen
P. Bas, J. Lienard, J-M Chassery, D. Beautemps et G. Bailly
C. Beacco
voir J.M Brunetaud et al.
D. Beautemps
L. Béchou
voir G. Couturier et al.
J.B. Bégueret
voir G. Couturier et al.
J.P. Belheur, A. Abellard, G. Enea, P. Abellard et G. Nolibe
Y. Bellik
voir C. Jacquet et al.
voir R. Farcy et al.
voir C. Coudevylle et al.
H. Ben Ahmed, B. Multon et P.E. Cavarec
S. Ben Dhia
J.-M. Bénitez
voir E. Reino et al.
M. Benkhoris
voir E. Semail et al.
V. Berger
C. Berger-Vachon
M. Bergounioux
J. Bernussou
voir D. Arzelier et al.
F. Berthereau
voir C. Khatounian et al.
Ph. Bidaud
voir J. Szewczyk et al.
P. Bidaud
voir P. Rumeau et al.
L. Bigué et M. Hassenforder
C. Bingen
G. Blaize
voir S. Retailleau et al.
P. Boher
Caractérisation d'empilements de couches minces par ellipsométrie spectroscopique et réflectivité spéculaire des rayons X rasants.
L. Boillod
P. Boissy
voir N. Noury et al.
N. Bonnail, D. Tonneau, F. Jandard, H. Dallaporta et G.A. Capolino
F. Boochs
J. Botineau
voir E. Picholle et al.
J.L. Boulanger
B. Boulanger et J.-P. Fève
Méthodes de caractérisation des propriétés optiques non linéaires de conversion de fréquence des cristaux.
G. Boulon
D. Bouquain
voir D. Hissel et al.
G. Bourbon
voir P. Vescovo et al.
G. Bourdet
C. Bourgeois-République et P. Collet
A. Bournel
voir S. Galdin-Retailleau et al.
A. Bouscayrol
voir E. Semail et al.
L. Boyer, P. Chrétien, F. Houze, R. Meyer et O. Schneegans
E. Brassart
voir L. Delahoche et al.
voir L. Delahoche et al.
F. Braun
voir L. Hébrard et al.
voir Ph. Poure et al.
P. Bréguet
voir L. Zaffalon et al.
M. Breil et F. Morancho
S. Brette, S. Retailleau et J.-M. Siret
H. Brettel
voir P. Denieul et al.
A. Bricard
voir M. Ivanova et al.
A. Briguet
J. Brochard
P. Brodeau
voir M. Fadel et al.
P. Brosson
A. Brun
voir F. Salin et al.
A. Brun et P. Georges
H. Brunet
J.M. Brunetaud, S. Mordon, T. Desmettre et C. Beacco
P. Bugnet
voir P. Remaud et al.
B. Busso, E. Monmasson et S. Moreau
H. Camon , J.Y. Fourniols, S. Muratet et B. Estibals
H. Camon
voir B. Estibals et al.
G.A. Capolino
voir N. Bonnail et al.
J.M. Carayon
voir M. Fadel et al.
A. Carcy et M. Tournoud
A. Carenco
E. Cassan
E. Cassan et S. Cassan
E. Cassan
E. Cassan et S. Cassan
S. Cassan
Y. Castin
P.E. Cavarec
voir H. Ben Ahmed et al.
S. Cesarano
voir J.P. Mazeau et al.
M.-L. Chanin
D. Chappe
Ch. Chardonnet
B. Charlot
voir L. Montès et al.
J.M. Chassery
C. Chatellier et J. Brochard
J.P. Chemla
voir B. Riera et al.
R. Choulli
P. Chrétien
voir L. Boyer et al.
M. Clerc et P. Siarry
S. Colard
voir M. Mihailovic et al.
P. Collet
voir C. Bourgeoi-République
A. Collombet, Y. Guyot, E. Descroix et M.-F. Joubert
Spectroscopie optique dans l'ultraviolet de cristaux dopés par l'ion Nd3+.
B. Colombeau
voir M. Vampouille et al.
G. Coquery
voir B. Allard et al.
G. Coquery, L. Dupont, M. El Ghazouani, F. Forest, J.-J. Huselstein, R. Jérisian, Z. Khatir, S. Lefebvre, T. Lequeu, S. Moreau, F. Richardeau, F. Saint-Eve et J. Vallon
C. Corbé
F. Cordier
voir D. Bareille et al.
M. Cornu, I. de Lamberterie, P. Sirinelli et C. Wallaert
F. Costa, C. Vollaire et R. Meuret
C. Coudevylle, R. Farcy, Y. Bellik, C. Jacquet, R. Leroux et R. Damaschini
E. Courtade
J.-Y. Courtois
M. Cousineau
voir L. Guillot et al.
P. Coussot
G. Couturier, L. Béchou, J.B. Béguret et C. Pellet
S. Crand, S. Gauthier, F. Nouvel-Uzel et S. Le Nours
A. Culoma
H. Dallaporta
voir N. Bonnail et al.
R. Damaschini
voir R. Farcy et al.
voir C. Coudevylle et al.
Y. Danto
voir P. Kadionik et al.
B. Davat
voir E. Semail et al.
voir F. Meibody-Tabar et al.
E. David, A. Dworak, F. Louboutin et G. Stevenard
A. Dazzi
voir S. Retailleau et al.
D. Debarre
voir S. Retailleau et al.
B. de Cremoux
B. deFornel
voir E. Semail et al.
C. Defranoux-Igier
M. de Frutos
voir S. Retailleau et al.
C. Déjous
voir I. Dufour et al.
L. Delahoche, O. Rémy-Néris, J.M. Devauchelle, D. Nadalini, B. Marhic et E. Brassart
L. Delahoche, J.M. Devauchelle, O. Rémy-Néris, B. Marhic, E. Brassart et T. Langlet
P. Delarue
voir E. Semail et al.
Ph. Delaye et G. Roosen
Matériaux photoréfractifs.
S. Delmas-Bendhia
voir E. Sicard et al.
J. Demongeot
voir N. Noury et al.
L. Dendura
voir D. Robbes et al.
P. Denieul, H. Brettel, A. Monot et F. Vienot
E. Descroix
voir A. Collombet et al.
A. Desfarges
voir M. Vampouille et al.
T. Desmettre
voir J.M Brunetaud et al.
P. Destruel
J.M. Devauchelle
voir L. Delahoche et al.
voir L. Delahoche et al.
F. Devos
P. Disseix
voir M. Mihailovic et al.
T. Doget
voir P. Lagonotte et al.
D. Doizi
P. Dondon
O. Dubois
voir B. Riera et al.
R. Duffait et L. Boillot
I. Dufour, C. Déjous, C. Pellet et D. Rebière
L. Dupont
voir B. Allard et al.
J.P. Dupraz, A. Fanget, T. Jung et G.F. Montillet
Ph. Dupuy
voir L. Guillot et al.
N. Durand et J.-B. Gotteland
C. Durieu
C. Durieu et M. Kieffer
A. Dworak
voir E. David et al.
G. Énéa
voir J.P. Belheur et al.
B. Estibals
voir H. Camon et al.
B. Estibals, J. L. Sanchez, C. Alonso, H. Camon et J.P. Laur
C. Fabre
M. Fadel, R. Ruelland, G. Gateau, J.-C. Hapiot, P. Brodeau et J.-P. Carayon
R. Farcy
voir C. Jacquet et al.
R. Farcy, R. Damaschini, R. Legras, R. Leroux, Y. Bellik, C. Jacquet, J. Greene, P. Pardo, L. Agro, J.M. Murienne et A. Zoghaghi
R. Farcy
voir C. Coudevylle et al.
J.F. Favennec
voir P.M. Martin et al.
B. Ferrand
Méthodes d'élaboration de cristaux pour l'optique.
J.-P. Fève
J.Y. Floch, D. Piriou, G. Tanné, A. Thépaut et P. Vilbé
E. Foch
voir O. Langlois et al.
J.P. Folcher
G. Fontes
voir R. Saïsset et al.
J.Y. Fourniols
voir H. Camon et al.
O. Français
M. Frénéa
voir B. Le Pioufle et al.
V. Frick
voir L. Hébrard et al.
J.-M. Frigerio
Caractérisation optique des couches minces et des cristaux massifs (spectrophotométrie et ellipsométrie spectroscopique).
C. Froehly
voir M. Vampouille et al.
S. Galdin-Retailleau, A. Bournel et P. Hesto
J.-P. Garandet
Croissance cristalline en phase liquide : éléments théoriques.
G. Gateau
voir M. Fadel et al.
S. Gauthier
voir S. Crand et al.
R. Gelin
voir C. Leroux et al.
F. Gellot
voir B. Riera et al.
P. Georges
voir F. Salin et al.
P. Geraldo et H. Yahoui
Ch. Gillot
voir M. Ivanova et al.
C. Glaize
voir J.J. Huselstein
P. Glorieux
P. Goold
voir P. Kadionik et al.
J.-B. Gotteland
J.P. Goure
M. Gourgand, N. Grangeon et S. Norre
G. Gramaccia, A. Perret et C. Pellet
N. Grangeon
voir M. Gourgand et al.
G. Grangier
voir F. Salin et al.
J. Greene
voir R. Farcy et al.
D. Grenier
voir S. Labrique et al.
F. Gueuning
L. Guillot, P. Turpin, M. Cousineau et P. Dupuy
Y. Guyot
voir A. Collombet et al.
M. Hafez
voir R. Velázquez et al.
J.C. Hapiot
voir M. Fadel et al.
D. Harribey
voir V. Monturet et al.
M. Hassenforder
J.P. Hautier
voir E. Semail et al.
L. Hébrard, V. Frick, P. Poure et F. Braun
L. Hébrard
voir Ph. Poure et al.
H. Henao
C. Hénaux, J.F. Rouchon et B. Nogarede
D. Henrion
voir D. Arzelier et al.
I. Herman
voir F. Nouvel-Uzel et al.
O. Hervieu
voir D. Robbes et al.
P. Hesto
voir S. Galdin-Retailleau et al.
voir S. Retailleau et al.
D. Hissel, D. Bouquain et A. Miraoui
O. Horn et M. Kreutner
F. Houze
voir L. Boyer et al.
P. Huard
A. Hubert et al.
D. Hulin
J.J. Huselstein et C. Glaize
C. Ioana
voir A. Quinquis et al.
A. Ishii
C. Iung et P. Riedinger
M. Ivanova, Y. Avenas, C. Schaeffer, C. Gillot et A. Bricard
G. Izard
voir D. Bareille et al.
C. Jacquet, R. Farcy et Y. Bellik
C. Jacquet
voir R. Farcy et al.
voir C. Coudevylle et al.
P. Jaeglé
F. Jandard
voir N. Bonnail et al.
Ch. Jégo, A. Picart et J. Tousch
C. Jégo, J. Le Masson et E. Piriou
M.-F. Joubert
voir A. Collombet et al.
P. Kadionik, T. Zimmer et Y. Danto
P. Kadionik, G. Morizet, P. Goold et F. Tatin
R. Kadri
voir Ph. Poure et al.
J.C. Kastelik, M. Pommeray et M. Slachciak
M. Kayal, D. Stefanovic et M. Pastre
N. Kébaïli
voir S. Retailleau et al.
V. Kermène
voir M. Vampouille et al.
Z. Khatir
voir B. Allard et al.
C. Khatounian, F. Khatounian, E. Monmasson, F. Berthereau et J.P. Louis
F. Khatounian
voir C. Khatounian et al.
M. Kieffer
M. Kreutner
R. Kuszelewicz
F. Labrique
voir S. Labrique et al.
S. Labrique, D. Grenier et F. Labrique
M. Lacombat
Ph. Ladoux, F. Richardeau et L. Raulin
P. Lagonotte
P. Lagonotte, J.P. Le Bourg, T. Doget et J.P. Allard
E. Lallier
I. de Lamberterie
voir M. Cornu et al.
T. Langlet
voir L. Delahoche et al.
O. Langlois, E. Foch, X. Roboam et H. Picquet
J.-P. Laur
voir B. Estibals et al.
S. Laval
M. Lazar
voir B. Allard et al.
D. Le Berre
voir P.M. Martin et al.
T. Lebey
Y. Le Boulair
voir M. Musial et al.
J.P. Le Bourg
voir P. Lagonotte et al.
M. Leduc et E. Courtade
S. Lefebvre
voir B. Allard et al.
O. Legrand
voir E. Picholle et al.
R. Legras
voir R. Farcy et al.
S. Lelandais
voir C. Montagne et al.
J. Le Masson
P. Le Moal
voir P. Vescovo et al.
S. Le Nours
voir S. Crand et al.
voir F. Nouvel-Uzel et al.
J.-P. Le Pesant
B. Le Pioufle, M. Frénéa et A. Tixier
T. Leroux
C. Leroux
voir F. Maingreaud et al.
C. Leroux, A. Lottin, A. Leservot et R. Gelin
R. Leroux
voir R. Farcy et al.
voir C. Coudevylle et al.
G. Le Saux
voir F. Salin et al.
A. Leservot
voir C. Leroux et al.
C. Leycuras
voir E. Picholle et al.
J. Leymarie
voir M. Mihailovic et al.
J. Lienard
J. Lobry et A. Ishii
J. Lopez Krahe
voir D. Moreno Eddowes
voir J.P. Mazeau et al.
A. Lottin
voir C. Leroux et al.
F. Louboutin
voir E. David et al.
J.P. Louis
voir C. Khatounian et al.
voir E. Semail et al.
D. Magnon
F. Maingreaud, E. Pissaloux, C. Leroux et A. Micaelli
S. Mallick
C.N. Man
J. Mangin
Métrologie des propriétés optiques de matériaux massifs : absorption résiduelle, coefficients thermo-optiques, piézo-électriques et électro-optiques.
B. Marhic
voir L. Delahoche et al.
voir L. Delahoche et al.
S. Marinel
voir D. Robbes et al.
P.M. Martin, G. Tanné, E. Rius, D. Le Berre et J.F. Favennec
N. Martin
J.-M. Martinez
M. Martinez et J.-Y. Midy
N. Mathieu
voir L. Montès et al.
P. Maussion
voir M. Musial et al.
J.P. Mazeau, J. Lopez Krahe et S. Cesarano
G. Mazet
voir D. Bareille et al.
F. Meibody-Tabar, B. Davat, R. Meuret et S. Vieillard
F. MeibodyTabar
voir S. Pierfederici et al.
voir E. Semail et al.
P. Melchior
voir J. Sabatier et al.
J.M. Mendousse
N. Metz
voir J.P. Arches et al.
R. Meuret
voir S. Pierfederici et al.
voir B. Allard et al.
voir F. Costa et al.
voir F. Meibody-Tabar et al.
R. Meyer
voir L. Boyer et al.
J.L. Meyzonnette
S. Mias, N. Barthen, R. Choulli et J.M. Mendousse
A. Micaelli
voir F. Maingreaud et al.
J.Y. Midy
M. Mihailovic, S. Colard, L. Siozade, J. Leymarie, P. Disseix, A. Vasson et N. Antoine-Vincent
Ellipsométrie spectroscopique de composés à base de nitrures.
P. Minotti
voir P. Vescovo et al.
A. Miraoui
voir D. Hissel et al.
T. Molinier et D. Fofi
R. Moncorgé
Cristaux laser à ions terres rares.
M. Monerie
Y. Monfort
voir D. Robbes et al.
E. Monmasson
voir C. Khatounian et al.
voir B. Busso et al.
voir E. Semail et al.
A. Monot
voir P. Denieul et al.
C. Montagne, S. Lelandais et J. Triboulet
L. Montès, D. Tsamados, N. Mathieu, P. Morfouli, B. Charlot et C. Schaeffer
C. Montes
voir E. Picholle et al.
V. Monturet, D. Harribey et B. Nogarede
F. Mora, R. Vauzelle et Ph. Nehlig
F. Morancho
S. Mordon
voir J.M Brunetaud et al.
S. Moreau
voir B. Busso et al.
H. Morel
voir B. Allard et al.
O. Morel, R. Seulin, C. Stolz et P. Gorria
D. Moreno Eddowes, J. Lopez Krahe
P. Morfouli
voir L. Montès et al.
G. Morizet
voir P. Kadionik et al.
C. Mory
voir S. Retailleau et al.
S. Moulias
voir P. Rumeau et al.
B. Mouton, F. Vincent et C. Nouals
B. Multon
voir H. Ben Ahmed et al.
S. Muratet
voir H. Camon et al.
S. Muratet et J.-Y. Fourniols
J.M. Murienne
voir R. Farcy et al.
M. Musial, Y. Le Boulair et P. Maussion
D. Nadalini
voir L. Delahoche et al.
Ph. Nehlig
F. Noailles
voir J.P. Arches et al.
B. Nogarede
voir V. Monturet et al.
voir C. Hénaux et al.
G. Nolibe
voir J.P. Belheur et al.
S. Norre
voir M. Gourgand et al.
C. Nouals
voir B. Mouton et al.
N. Noury, P. Barralon, G. Virone, P. Rumeau et P. Boissy
N. Noury, G. Virone, P. Barralon, V. Rialle et J. Demongeot
F. Nouvel-Uzel
voir S. Crand et al.
F. Nouvel-Uzel, S. Le Nours et I. Herman
D. Nutarelli
voir S. Retailleau et al.
J.M. Ortega
J.M. Ory
A. Oustaloup
voir J. Sabatier et al.
C. Pachaud
J. Pagès and J. Salvi
P. Pardo
voir R. Farcy et al.
H. Pascard
voir S. Retailleau et al.
V. Pasqui
voir P. Rumeau et al.
M. Pastre
voir M. Kayal et al.
D. Peaucelle
voir D. Arzelier et al.
C. Pellet
voir I. Dufour et al.
voir G. Gramaccia et al.
voir G. Couturier et al.
E. Pelletier
A. Perret
voir G. Gramaccia et al.
E. Perrin et C. Berger-Vachon
A. Picart
voir Ch. Jégo et al.
E. Picholle, J. Botineau, 0. Legrand, C. Leycuras et C. Montes
M. Pichon
S. Pierfederici, R. Meuret, F. Meibody-Tabar et B. Davat
S. Pierfederici
voir E. Semail et al.
M. PietrzakDavid
voir E. Semail et al.
H. Piquet
voir O. Langlois et al.
D. Piriou
voir J.Y. Floch et al.
E?. Piriou
E. Pissaloux
voir R. Velázquez et al.
voir F. Maingreaud et al.
D. Planson
voir B. Allard et al.
J.P. Pocholle
M. Pommeray
voir J.C. Kastelik et al.
Ph. Poure
voir L. Hébrard et al.
P. Poure, R. Kadri, L. Hébrard et F. Braun
C. Quendo
A. Quinquis, E. Radoi, C. Ioana et F.C. Totir
E. Radoi
voir A. Quinquis et al.
G. Rapenne
C.P. Rauch
L. Raulin
voir P. Ladoux et al.
H. Razik
voir E. Semail et al.
D. Rebière
voir I. Dufour et al.
E. Reino, G. Aka, J.-M. Bénitez, P. Aschehoug, D. Vivien
Élaboration des cristaux LnCOB pour la conversion de fréquence en accord de phase non critique.
P. Remaud, P. Bugnet et J.C. Trigeassou
O. Rémy-Néris
voir L. Delahoche et al.
voir L. Delahoche et al.
S. Retailleau, G. Blaize, A. Dazzi, D. Debarre, M. de Frutos, P. Hesto, N. Kébaïli, C. Mory, D. Nutarelli, H. Pascard, J. Sée, O. Stephan et V. Yam
S. Retailleau
voir S. Brette et al.
N. Retiere
voir F. Barruel et al.
V. Rialle
voir N. Noury et al.
F. Richardeau
voir P. Ladoux et al.
P. Riedinger
B. Riera, F. Gellot, O. Dubois, J.P. Chemla et S. Triki
E. Rius et C. Quendo
E. Rius
voir P.M. Martin et al.
D. Robbes, L. Dendura, I. Robbes, O. Hervieu, Y. Monfort et S. Marinel
D. Robbes et M. Pichon
I. Robbes
voir D. Robbes et al.
X. Roboam
voir O. Langlois et al.
F. Rodriguez Mateos, G. Rojat et P. Venet
O.J. Roesch, H. Roth et H. Yahoui
G. Roger
voir F. Salin et al.
G. Roosen
G. Rostaing, F. François et J.P. Rognon
J.-F. Rouchon
J.F. Rouchon
voir C. Hénaux et al.
J. Roudet
voir F. Barruel et al.
R. Ruelland
voir M. Fadel et al.
A. Rufer
P. Rumeau, S. Moulias, V. Pasqui, F. Steenkeste, B. Vellas et P. Bidaud
P. Rumeau
voir N. Noury et al.
J.Sabatier, P. Melchior et A. Oustaloup
R. Saïsset, G. Fontes, C. Turpin et S. Astier
F. Salin, P. Georges, G. Roger, G. Le Saux, P. Grangier et A. Brun
J.-L. Sanchez
voir B. Estibals et al.
V. de Sars
voir J. Szewczyk et al.
Ch. Schaeffer
voir M. Ivanova et al.
C. Shaeffer
voir L. Montès et al.
J.L. Schanen
voir F. Barruel et al.
O. Schneegans
voir L. Boyer et al.
J. Sée
voir S. Retailleau et al.
E. Semail, F. Meibody-Tabar, M.-F. Benkhoris, H. Razik, M. Pietrzak-David, E. Monmasson, A. Bouscayrol, B. Davat, P. Delarue, B. de Fornel, J.-P. Hautier, J.-P. Louis et S. Piefederici
P. Siarry
P. Sibille et C. Defranoux-Igier
E. Sicard et S. Delmas-Bendhia
E. Sicard et S. Ben Dhia
L. Siozade
voir M. Mihailovic et al.
J.-M. Siret
voir S. Brette et al.
P. Sirinelli
voir M. Cornu et al.
C. Sirtori
M. Slachciak
voir J.C. Kastelik et al.
F. Steenkeste
voir P. Rumeau et al.
D. Stefanovic
voir M. Kayal et al.
O. Stephan
voir S. Retailleau et al.
G. Stevenard
voir E. David et al.
J. Szewczyk, V. de Sars et P. Bidaud
J. Szewczyk
voir R. Velázquez et al.
Invités : A. Carenco et J.P. Pestle
T. Talbert
G. Tanné
voir J.Y. Floch et al.
voir P.M. Martin et al.
F. Tatin
voir P. Kadionik et al.
A. Thépaut
voir J.Y. Floch et al.
J. Tiberghien
A. Tixier
voir B. Le Pioufle et al.
D. Tonneau
voir N. Bonnail et al.
F. Totir
voir A. Quinquis et al.
M. Tournoud
J. Tousch
voir Ch. Jégo et al.
J. Triboulet
voir C. Montagne et al.
J.C. Trigeassou
voir P. Remaud et al.
S. Triki
voir B. Riera et al.
D. Tsamados
voir L. Montès et al.
P. Turpin
voir L. Guillot et al.
C. Turpin
voir R. Saïsset et al.
S. Valette
M. Vampouille, B. Colombeau, A. Desfarges, V. Kermène et C. Froehly
A. Vasson
voir M. Mihailovic et al.
R. Vauzelle
R. Velázquez, E. Pissaloux, J. Szewczyk et M. Hafez
B. Vellas
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